Стереомикроскоп SZM 7045 на вертикальном штативе
- 21 906.3грн.
-
Идеально подходит для профессиональных закрепщиков и оценщиков. Под микроскопом изучаются как ювелирные изделия с драгоценными камнями, так и незакрепленные камни (предварительно помещенные в пинцет). С помощью микроскопа решается вопрос о происхождении камня - природный или синтетический. При увеличении в камне можно увидеть мельчайшие включения и трещины, различные дефекты. При этом природные и синтетические камни имеют разные включения. Синтетические камни могут иметь включения газовых пузырей. В природных камнях характерными являются минеральные включения в виде тонких иголочек и пластинок. Диагностика природных и синтетических включений в огранённых камнях является задачей сложной для идентификации и зависит от опыта эксперта-геммолога.
Комплектация: окуляры 10х, объектив 0,5х
Оптическая насадка: бинокуляр (MJ2-ZOOM)
Кратность трансфокатора: 6.4:1
Увеличение (ZOOM): 0.7x - 4.5x
Общее увеличение: 7x - 45x (с окулярами 10x)
Регулировка увеличения: винты с двух сторон, с градуировкой
Поле зрения: 32 - 5.1 мм (с окулярами 10x)
Рабочее расстояние: 100 мм (с объективом 0.5х -160мм)
Наклон тубуса: 45°
Настройка межзрачкового расстояния: 54 - 75 мм
Диоптренная настройка: на обоих окулярах ±5D
Максимальный диапазон увеличения с дополнительными линзами: 2.1x - 270x
|
Дополнительная комплектация |
насадка 0,5 Х |
|
Оптическая насадка |
WF10X/20 |
|
Кратность трансфокатора |
0,7-4,5 Х винты с двух сторон с регулировкой |
|
Рабочее расстояние |
100-160 мм |
|
Поле зрения |
32-1,5 мм |
|
Наклон тубуса |
45 градусов |
|
Настройка межзрачкового расстояния |
54-75 мм |
|
Диапазон регулировки высоты |
0-330 мм |
|
Диапазон регулировки расстояния |
360-840 мм |
|
Сектор угловых перемещений |
0-360 градусов |
|
Увеличение микроскопа |
7-45 Х |
|
Страна производитель |
Китай |